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芯片失效分析檢測是判斷芯片失效性質、分析失效原因、研究預防措施的技術工作。其目的在于提高芯片品質，改善生產(chǎn)方案，從而保障產(chǎn)品品質。

AEC-Q認證服務是專門針對汽車電子零部件設計的一系列質量評估與可靠性測試服務。它旨在確保汽車電子部件能夠在各種復雜多變的環(huán)境下穩(wěn)定工作，為汽車的安全性和性能提供堅實的保障。

車規(guī)電子元器件認證是對用于汽車電子領域的元器件進行的一系列嚴格測試和認證，以確保它們能在汽車的各種復雜環(huán)境中穩(wěn)定、可靠地運行。

半導體元器件失效分析檢測采用光學傳感器、紅外線探測器或顯微鏡等技術，通過觀察和分析半導體元器件表面的光學特征，來識別缺陷、污染或結構問題。

廣電計量車規(guī)電子元器件AEC-Q全系認證服務建成并具備了覆蓋AEC-Q100、101、102、104、200全套認證測試能力，有利地支撐國產(chǎn)電子元器件的設計、制造、終端應用過程中的產(chǎn)品分析測試需求。

X-ray元器件無損檢測失效分析：X-ray檢測是一種發(fā)展成熟的無損檢測方式，目前廣泛應用在物料檢測（IQC）、失效分析（FA）、質量控制(QC)、質量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領域。廣電計量可針對對金屬材料及零部件、電子元器件、電纜，裝具，塑料件等進行X-ray無損檢測。

光電熱機械全參數(shù)測試 光電器件：廣電計量光、電、熱、機械全參數(shù)測試服務可與企業(yè)合作，深入產(chǎn)品研發(fā)階段，有效為產(chǎn)品研發(fā)和定型提供測試保障。

傳感器液體冷熱沖擊試驗：液態(tài)冷熱沖擊試驗主要用于兩個裝置內部的液體冷熱交替循環(huán)試驗。冷熱沖擊試驗是評價散熱器抗溫度交變循環(huán)能力的強化試驗，為冷卻器的設計提供試驗數(shù)據(jù)，也是驗證冷熱交變溫度下非金屬-金屬連接件的可靠性，對保證換熱器質量和提高其可靠性具有重要作用。廣電計量可提供傳感器液態(tài)沖擊試驗服務。